光電全譜光譜儀的優(yōu)缺點(diǎn)
來源：杰博科技 次數(shù)： 發(fā)布時(shí)間：2018/10/8 13:45:51
在工業(yè)生產(chǎn)中，光電全譜光譜儀分析速度快，分析結(jié)果可靠，已被廣泛采用。且它還具有以下優(yōu)點(diǎn)。
一、用光電直讀光譜儀做分析，可使用的譜線波長范圍較寬。這個(gè)范圍由光電倍增管的性能決定。例如，用石英窗孔的PMT，加上光譜儀的光學(xué)系統(tǒng)置于真空中，可用的波長可短至150nm。這就可能利用位于波段中的譜線來分析。例如N元素，波長為149.2nm，0元素波長為130.1nm。
二、校準(zhǔn)曲線范圍寬。由于PMT對信號的放大能力很大，對于強(qiáng)弱不同的譜線所用的PMT可用不同的放大倍數(shù)。相差可達(dá)10000倍。因此，光電法可用同一分析條件對樣品中許多元素進(jìn)行分析。雖然含量范圍相差懸殊的很多元素從高含量到低含量都可同時(shí)分析。
三、攝譜法的感光板及測光方面引人的誤差一般在1%以上。而光電直讀光譜儀的測光誤差可降至0.2%以下。具有很高的準(zhǔn)確度。有利于樣品中高含量元素的分析，例如，Cr可以分析40%以上，Ni同樣分析在40%以上，而且準(zhǔn)確。
四、光電直讀光譜儀分析速度快，一般收到樣品2~3min內(nèi)即可同時(shí)對鋼中20多個(gè)合金元素進(jìn)行測量，控制冶煉工藝，加速煉鋼過程，是節(jié)能減排的一種有效手段。
目前光電直讀光譜儀分析的缺陷有以下幾點(diǎn)。
（1）由于使用出射狹縫，因此不能利用波長相近的譜線。
（2）由于使用出射狹縫，PMT接收譜線的同時(shí)，還接收背景（采用BKG175.7nm背景通道，可扣除背景的影響）。
（3）出射狹縫的位置固定，分析的元素受到限制，對分析任務(wù)的變化需更改通道，選擇另外的出射狹縫。
（4）由于背景的存在，對痕量元素的分析有些困難。
（5）它不是一個(gè)獨(dú)立的方法，而是要依靠化學(xué)分析。要求化學(xué)分析提供光譜的標(biāo)準(zhǔn)。
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